實驗名稱：單個環(huán)形柔性IDT損傷檢測的初步研究

　　測試目的：搭建實驗平臺對單個環(huán)形柔性IDT的頻率響應(yīng)特性、振動輸出響應(yīng)、方位特性、距離衰減特性以及損傷檢測進(jìn)行實驗研究。

　　測試設(shè)備：ATA-2082高壓放大器、示波器、信號發(fā)生器以及粘貼有單個環(huán)形柔性IDT的待檢測鋁板等。

　　圖1：單個環(huán)形柔性IDT陣列的損傷檢測實驗平臺

　　實驗過程：

　　搭建的針對單個環(huán)形柔性IDT損傷檢測的實驗平臺，其中圖1(a)為實驗裝置的布置圖，圖1(b)為實驗儀器的線路連接圖。利用在鋁板正反面吸附半徑為5mm的強磁鐵作為損傷，其位置坐標(biāo)為（-141.4mm，141.4mm），距離單個環(huán)形柔性IDT的距離為200mm。實驗時通過信號發(fā)生器輸出頻率為200kHz，幅值為5V的五峰窄帶調(diào)制正弦信號作為激勵信號，其波形圖如圖2(a)所示，由電壓放大器放大20倍后經(jīng)PZT輸出，單個環(huán)形柔性IDT接收信號并通過示波器顯示并導(dǎo)出分析。

　　如圖2(b)和(c)為單個環(huán)形柔性IDT接收到鋁板無損傷時的原始波形圖和鋁板有損傷時的原始波形圖。通過將單個環(huán)形柔性IDT接收到的鋁板有損傷時的波形信號與鋁板無損傷時的波形信號進(jìn)行做差，可得到如圖2(d)所示的損傷反射波的波形圖。

　　圖2：單個環(huán)形柔性IDT損傷檢測的波形圖

　　實驗結(jié)果：

　　通過對單個環(huán)形柔性IDT的損傷檢測進(jìn)行初步研究，發(fā)現(xiàn)可明顯的觀察到損傷反射波的S0模態(tài)與A0模態(tài)，并利用一維定位的方式，確定了損傷的位置，驗證了單個環(huán)形柔性IDT陣列具有良好的損傷檢測性能，可將其應(yīng)用于結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測中。

　　電壓放大器推薦：ATA-2082

　　圖：ATA-2082高壓放大器指標(biāo)參數(shù)

　　ATA-2082是一款理想的可放大交直流信號的雙通道高壓放大器。最大輸出800Vp-p(±400Vp)高壓，可以驅(qū)動高壓型負(fù)載。電壓增益數(shù)控可調(diào)，一鍵保存常用設(shè)置，提供了方便簡潔的操作選擇，可與主流的信號發(fā)生器配套使用，實現(xiàn)信號的放大。

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